Authors: R. V. Somanathan 1; A. Šimůnek 1; J. Bukač 2; T. Brázda 1; D. Kopecká 1 Authors‘ workplace: Department of Dentistry, Charles University in Prague, Faculty of Medicine in Hradec Králové Head of the department doc. MUDr. V. Hubková, CSc. 1; Department of Biophysics, Charles University in Prague, Faculty of Medicine in Hradec Králové Head of the department prof. MUDr. P. Stránský, CSc. 2 Published in: Česká stomatologie / Praktické zubní lékařství, ročník 106, 2006, 4, s. 111-114
Měření primární stability dentálních implantátů rezonanční frekvenční analýzou je spolehlivá a vědecky ověřená metoda. Zdá se, že vyšší hodnoty ukazují na lepší stabilitu, a tím i lepší prognózu implantátu. Toto pravidlo by mohlo platit i u implantátů v sinus liftu. Předkládaná studie dokazuje, že pokud má implantát v sinus liftu primárně nižší hodnoty ISQ, během vhojování implantátu se tyto hodnoty zvyšují. Naopak primární stabilita implantátů s vysokými počátečními hodnotami ISQ se během vhojování oslabuje. Z toho vyplývá, že sekundární stabilita implantátu přímo nezávisí na primární stabilitě.
Klíčová slova: sinus lift - rezonanční frekvenční analýza - hodnoty ISQ - stabilita implantátu
Don‘t have an account? Create new account
Enter the email address that you registered with. We will send you instructions on how to set a new password.
