Authors: Z. Zapletalová 1; R. Kubínek 2; M. Vůjtek 2 Authors‘ workplace: I. stomatologická klinika LF UP a FN Olomouc, přednostka doc. MUDr. J. Stejskalová, CSc. 2Katedra experimentální fyziky PřF UP, Olomouc, vedoucí katedry doc. RNDr. R. Kubínek, CSc. 1 Published in: Česká stomatologie / Praktické zubní lékařství, ročník , 2004, 5, s. 180-185 Category:
Mikroskopie atomárních sil – AFM (Atomic Force Microscopy) je jednou z technik Mikroskopieskenující (rastrující) sondou, používaných k zobrazování struktury povrchů. Je založena namapování rozložených atomárních sil na povrchu zkoumaného vzorku. AFM poskytuje věrnýtopografický trojrozměrný obraz povrchu s rozlišením až atomárním. Kromě fyziky a chemiepovrchů je metoda použitelná i v biologických oborech. Speciální úprava skeneru AFM umožňujesledovat biologické vzorky v kapalných prostředcích. Tím se lze vyhnout celé řadě artefaktůzpůsobených dehydratací.Je známo, že dentin lidských zubů je excesivně citlivý na odvodnění a vysušení, které jepoužíváno při standardní přípravě vzorků pro vyšetření v SEM (Scanning Electron Microscopy).V této práci popisujeme naše zkušenosti s vyšetřením dentinového povrchu extrahovanýchtřetích molárů s pomocí AFM za vlhkých podmínek.
Klíčová slova: Mikroskopie atomárních sil (AFM) – dentin – smear layer
Don‘t have an account? Create new account
Enter the email address that you registered with. We will send you instructions on how to set a new password.
